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LED硫化失效分析與可靠性研究

編輯:admin 2014-06-25 14:53:08 瀏覽:1227  來源:

 談到LED失效,人們首先會想到正常電流驅動下出現的死燈不亮現象,或者僅僅發出微弱光線。事實上,這已是失效類型達到最嚴重的程度,稱為災難失效。相反,如果LED產品在平時使用中,一些關鍵參數特性偏離出可接受限度,例如永久性光輸出衰減,色溫漂移,顯色指數下降等,我們稱之為參數失效。

  單獨從裸晶芯片(即磊晶晶粒)上考慮,出現LED產品參數失效機率很低,因為它屬于一種性質很穩定的固態化合物,在規范的條件下使用,不易損壞,而處于一般應用環境也不起化學反應,因此擁有較長的壽命。然而,為使該芯片發光,必須將它黏貼在特定的載臺(即支架或基板)上并以金屬線或焊錫等材料連接晶粒正負極,然后用高分子材料與發光材料混合包覆在整個載臺,這就是所謂封裝制程,經過這段制程后的LED燈珠,包覆在芯片的封裝材料極容易遭受損傷,因此,各種LED參數失效歸因于封裝材料的破壞和劣化。

  一、LED硫化現象

  大部分參數失效過程是一個漸變的過程,并且在開始時候不能立刻被察覺,它屬于一種存在的隱患,稱之為隱性失效。經過一段時間,重要材料遭到徹底破壞,最終演變成災難失效。硫化現象就屬于這種隱性失效。

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